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上海上分/精科紫外可见分光光度计UV760CRT
型号:UV760CRT
品牌:上海上分
市场价:68000
折扣价:
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产品介绍

主要特点:

●采用全息闪耀光栅,双光束C-T式光路结构,高分辨率,低杂散光,测光精度高,稳定性能好。

● 微机控制,自动记录,打印机可在一张记录纸上打印出光谱图、测试数据及操作参数。
● 光源自动转换(可在294nm~364nm间任意设定)
● 功能极强的光谱处理能力。

软件特点:
● 信息存贮容量大,保存方便。
● 软件提供四个图谱通道临时贮存图谱,可进行覆盖和重叠方式的透过率、吸光度、吸收度对数和能量图谱扫描,透过率和吸光度的图谱可轻松地相互转换,对图谱可进行图谱和图谱、图谱和系数的四则运算、导数运算。
● 图谱的峰谷检测、缩放轻松自如。
● 时间扫描可进行动力学研究。
● 定量分析提供了浓度线性回归法、方法中提供了待定系数法和系数输入法可进行曲线拟合及异常点剔除、2λ和3λ的测定,3λ提供了自动的波长设定并提供10组波长数据供用户选择使用。
● 软件提供了定波长和多波长测试,并可对测试数据进行注释,对同一样品多用户的测试提供了方便,多波长测试则可进行多达20个点波长的测试。
● 可轻松地将贮存图谱的参数设置为仪器当前测试条件。
● 打印机可进行参数与图谱打印、参数与图谱及数据打印、参数与数据打印和工作曲线的打印。

技术指标:
● 测光方式:双光束C-T式光路结构,全息闪耀光栅分光器,光电倍增管检测。
● 波长范围:190nm~900nm
● 分辩率:优于0.15nm
● 光谱带宽:0.08nm~5nm间隔0.01nm连续可调
● 波长允许误差:±0.3nm(内装自动波长校正装置)
● 波长重复性:0.2nm
● 杂散光:≤0.08%(T)(以NaI溶液在220nm处)
● 透射比允许误差:±0.3%τ(以NBS930D测定)
● 透射比重复性:0.2%(T)
● 扫描速度:快、中、慢
● 稳定性:≤±0.004A/30min
● 噪声:±0.3%(100%处) ±0.1%(0%处)

售后服务
质量保证:我方提供设备全部为全新设备(包括零部件),且设备的各零部件是产品出厂时的原始配置,设备质量符合国家质量检测标准。

售后服务:产品保修期为十二个月,在保修期内供方将免费维修和更换属质量原因造成的零部件损坏,保修期外零部件的损坏,提供的配件只收成本费,由需方人为因素造成的设备损坏,供方维修或提供的配件均按成本价计。

验收:我方承诺所供设备开机正常,随机的备品、备件、手册和相关资料齐全。验收过程中如出现问题,我方将严格按照国家“三包”政策执行。

声明: 因厂家会在没有任何提前通知的情况下更改产品包装、产地或者一些附件,本司不能确保客户收到的货物与商城图片、产地、附件说明完全一致。只能确保为原厂正货!并且保证与当时市场上同样主流新品一致。若本网站没有及时更新,请大家谅解!
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